Organic film thickness influence on the bias stress instability in sexithiophene field effect transistors

CASSINESE, ANTONIO and ARUTA, CARMELA and BARRA, MARIO (2009) Organic film thickness influence on the bias stress instability in sexithiophene field effect transistors. [Pubblicazione su rivista scientifica]

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Tipologia di documento:Pubblicazione su rivista scientifica
Settori scientifico-disciplinari MIUR:Non specificato
Stato del full text:Accessibilità ristretta
Data:2009
Altri Autori:FV. Di Girolamo, A. Cassinese, C. Aruta, M. Barra, et al.
Numero di pagine:6
Intervallo di pagina:pp. 481-487
Volume:96
Numero:2
Dipartimento o Struttura:Dipartimento di Scienze Fisiche
Titolo rivista/pubblicazione:APPLIED PHYSICS. A, MATERIALS SCIENCE & PROCESSING
Numero di sistema:7573
Depositato il:21 Ottobre 2010 08:57
Ultima modifica:21 Ottobre 2010 08:57

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