Organic film thickness influence on the bias stress instability in sexithiophene field effect transistors
CASSINESE, ANTONIO and ARUTA, CARMELA and BARRA, MARIO (2009) Organic film thickness influence on the bias stress instability in sexithiophene field effect transistors. [Pubblicazione su rivista scientifica] Full text non disponibile da questo archivio.
| Tipologia di documento: | Pubblicazione su rivista scientifica |
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| Settori scientifico-disciplinari MIUR: | Non specificato |
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| Stato del full text: | Accessibilità ristretta |
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| Data: | 2009 |
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| Altri Autori: | FV. Di Girolamo, A. Cassinese, C. Aruta, M. Barra, et al. |
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| Numero di pagine: | 6 |
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| Intervallo di pagina: | pp.
481-487 |
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| Volume: | 96 |
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| Numero: | 2 |
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| Dipartimento o Struttura: | Dipartimento di Scienze Fisiche |
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| Titolo rivista/pubblicazione: | APPLIED PHYSICS. A, MATERIALS SCIENCE & PROCESSING |
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| Numero di sistema: | 7573 |
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| Depositato il: | 21 Ottobre 2010 08:57 |
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| Ultima modifica: | 21 Ottobre 2010 08:57 |
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