Portico Ambrosio, Michele (2007) Analisi di materiali semiconduttori in silicio-germanio e caratterizzazione di transistori bipolari in tale tecnologia. [Tesi di dottorato] (Unpublished)
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| Item Type: | Tesi di dottorato |
|---|---|
| Resource language: | Italiano |
| Title: | Analisi di materiali semiconduttori in silicio-germanio e caratterizzazione di transistori bipolari in tale tecnologia |
| Creators: | Creators Email Portico Ambrosio, Michele UNSPECIFIED |
| Date: | 2007 |
| Date type: | Publication |
| Number of Pages: | 206 |
| Institution: | Università degli Studi di Napoli Federico II |
| Department: | Ingegneria chimica, dei materiali e della produzione |
| Dottorato: | Ingegneria chimica, dei materiali e della produzione |
| Ciclo di dottorato: | 18 |
| Coordinatore del Corso di dottorato: | nome email Grizzuti, Nino UNSPECIFIED |
| Tutor: | nome email Mensitieri, Giuseppe UNSPECIFIED |
| Date: | 2007 |
| Number of Pages: | 206 |
| Keywords: | Silicio-germanio |
| Settori scientifico-disciplinari del MIUR: | Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-IND/22 - Scienza e tecnologia dei materiali |
| Date Deposited: | 12 May 2008 |
| Last Modified: | 30 Apr 2014 19:26 |
| URI: | http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/1492 |
| DOI: | 10.6092/UNINA/FEDOA/1492 |
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