Portico Ambrosio, Michele (2007) Analisi di materiali semiconduttori in silicio-germanio e caratterizzazione di transistori bipolari in tale tecnologia. [Tesi di dottorato] (Unpublished)

[img]
Preview
PDF
Portico_Ingegneria_Chimica_Materiali_Produzione.pdf

Download (5MB) | Preview
Item Type: Tesi di dottorato
Language: Italiano
Title: Analisi di materiali semiconduttori in silicio-germanio e caratterizzazione di transistori bipolari in tale tecnologia
Creators:
CreatorsEmail
Portico Ambrosio, MicheleUNSPECIFIED
Date: 2007
Date Type: Publication
Number of Pages: 206
Institution: Università degli Studi di Napoli Federico II
Department: Ingegneria chimica, dei materiali e della produzione
PHD name: Ingegneria chimica, dei materiali e della produzione
PHD cycle: 18
PHD Coordinator:
nameemail
Grizzuti, NinoUNSPECIFIED
Tutor:
nameemail
Mensitieri, GiuseppeUNSPECIFIED
Date: 2007
Number of Pages: 206
Uncontrolled Keywords: Silicio-germanio
MIUR S.S.D.: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-IND/22 - Scienza e tecnologia dei materiali
Date Deposited: 12 May 2008
Last Modified: 30 Apr 2014 19:26
URI: http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/1492

Actions (login required)

View Item View Item