Tamigi, Fabrizio (2007) Electrothermal effects in rf active devices. Measurement techniques and modeling. [Tesi di dottorato] (Inedito)

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Tipologia del documento: Tesi di dottorato
Lingua: English
Titolo: Electrothermal effects in rf active devices. Measurement techniques and modeling
Autori:
AutoreEmail
Tamigi, Fabrizio[non definito]
Data: 2007
Tipo di data: Pubblicazione
Numero di pagine: 98
Istituzione: Università degli Studi di Napoli Federico II
Dipartimento: Ingegneria elettronica e delle telecomunicazioni
Dottorato: Ingegneria elettronica e delle telecomunicazioni
Ciclo di dottorato: 19
Coordinatore del Corso di dottorato:
nomeemail
Poggi, Giovanni[non definito]
Tutor:
nomeemail
Spirito, Paolo[non definito]
Data: 2007
Numero di pagine: 98
Parole chiave: Bipolar transistor; Modeling; Rf measurement
Settori scientifico-disciplinari del MIUR: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 - Elettronica
Depositato il: 13 Mag 2008
Ultima modifica: 30 Apr 2014 19:26
URI: http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/1574
DOI: 10.6092/UNINA/FEDOA/1574

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