Mele, Luigi (2008) Characterization of helium implantation in silicon for the optimisation of static and dynamic behaviour of power diodes. [Tesi di dottorato] (Inedito)

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Tipologia del documento: Tesi di dottorato
Lingua: English
Titolo: Characterization of helium implantation in silicon for the optimisation of static and dynamic behaviour of power diodes
Autori:
AutoreEmail
Mele, Luigi[non definito]
Data: 2008
Tipo di data: Pubblicazione
Numero di pagine: 143
Istituzione: Università degli Studi di Napoli Federico II
Dipartimento: Ingegneria elettronica e delle telecomunicazioni
Dottorato: Ingegneria elettronica e delle telecomunicazioni
Ciclo di dottorato: 20
Coordinatore del Corso di dottorato:
nomeemail
Poggi, Giovanni[non definito]
Tutor:
nomeemail
Spirito, Paolo[non definito]
Data: 2008
Numero di pagine: 143
Parole chiave: Helium; Lifetime; Dynamic avalanche
Settori scientifico-disciplinari del MIUR: Area 09 - Ingegneria industriale e dell'informazione > ING-INF/01 - Elettronica
Depositato il: 31 Lug 2008
Ultima modifica: 30 Apr 2014 19:28
URI: http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/2048
DOI: 10.6092/UNINA/FEDOA/2048

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