Daliento, Santolo and Spirito, Paolo and Gialanella, Lucio and Limata, Benedicta Norman and Romano, Mario (2006) Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon. [Pubblicazione in rivista scientifica]
Il contenuto (Full text) non è disponibile all'interno di questo archivio.| Tipologia del documento: | Pubblicazione in rivista scientifica |
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| Titolo: | Experimental measurement of in-depth secondary defect distribution prodced by Helium implantation in silicon |
| Autori: | Autore Email Daliento, Santolo [non definito] Spirito, Paolo [non definito] Gialanella, Lucio [non definito] Limata, Benedicta Norman [non definito] Romano, Mario [non definito] |
| Autore/i: | S. DALIENTO; MELE L.; P. SPIRITO; GIALANELLA L; LIMATA B.N; ROMANO M |
| Data: | 2006 |
| Numero di pagine: | 0 |
| Dipartimento: | Scienze fisiche |
| Titolo del periodico: | NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION B, BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS |
| Data: | 2006 |
| Volume: | 253 |
| Intervallo di pagine: | pp. 90-93 |
| Numero di pagine: | 0 |
| Depositato il: | 20 Ott 2010 08:01 |
| Ultima modifica: | 30 Apr 2014 19:42 |
| URI: | http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/6409 |
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