Towards routine near field optical characterization of Silicon based photonic structures: An optical mode analysis in integrated waveguides by transmission AFM based SNOM
MADDALENA, PASQUALINO (2009) Towards routine near field optical characterization of Silicon based photonic structures: An optical mode analysis in integrated waveguides by transmission AFM based SNOM. [Pubblicazione su rivista scientifica] Full text non disponibile da questo archivio. Abstract, Physica E, 41,1130, (2009). | Tipologia di documento: | Pubblicazione su rivista scientifica |
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| Settori scientifico-disciplinari MIUR: | Non specificato |
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| Stato del full text: | Accessibilità ristretta |
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| Data: | 2009 |
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| Altri Autori: | F. Gesuele, C.X. Pang, G. Leblond, S. Blaize, A. Bruyant, P. Royer, R. Deturche, P. Maddalena, G. Lerondel |
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| Numero di pagine: | 9 |
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| Intervallo di pagina: | pp.
1130-1139 |
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| Volume: | 41 |
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| Dipartimento o Struttura: | Dipartimento di Scienze Fisiche |
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| Titolo rivista/pubblicazione: | PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES |
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| Numero di sistema: | 7458 |
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| Depositato il: | 21 Ottobre 2010 08:56 |
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| Ultima modifica: | 21 Ottobre 2010 08:56 |
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