Towards routine near field optical characterization of Silicon based photonic structures: An optical mode analysis in integrated waveguides by transmission AFM based SNOM

MADDALENA, PASQUALINO (2009) Towards routine near field optical characterization of Silicon based photonic structures: An optical mode analysis in integrated waveguides by transmission AFM based SNOM. [Pubblicazione su rivista scientifica]

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Abstract

, Physica E, 41,1130, (2009).

Tipologia di documento:Pubblicazione su rivista scientifica
Settori scientifico-disciplinari MIUR:Non specificato
Stato del full text:Accessibilità ristretta
Data:2009
Altri Autori:F. Gesuele, C.X. Pang, G. Leblond, S. Blaize, A. Bruyant, P. Royer, R. Deturche, P. Maddalena, G. Lerondel
Numero di pagine:9
Intervallo di pagina:pp. 1130-1139
Volume:41
Dipartimento o Struttura:Dipartimento di Scienze Fisiche
Titolo rivista/pubblicazione:PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES
Numero di sistema:7458
Depositato il:21 Ottobre 2010 08:56
Ultima modifica:21 Ottobre 2010 08:56

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