Impurity screening in silicon nanocrystals
NINNO, DOMENICO (2009) Impurity screening in silicon nanocrystals. [Pubblicazione su rivista scientifica] Full text non disponibile da questo archivio. URL: www.sciencedirect.com
| Tipologia di documento: | Pubblicazione su rivista scientifica |
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| Settori scientifico-disciplinari MIUR: | Non specificato |
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| Stato del full text: | Accessibilità ristretta |
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| Data: | 2009 |
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| Altri Autori: | F. Trani,D. Ninno,G. Cantele,E. Degoli,S. Ossicini |
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| Numero di pagine: | 2 |
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| Intervallo di pagina: | pp.
966-968 |
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| Volume: | 41 |
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| URL: | www.sciencedirect.com |
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| Dipartimento o Struttura: | Dipartimento di Scienze Fisiche |
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| Data dell'evento: | 2009-MAY 8 |
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| Numero identificativo: | 10.1016/j.physe.2008.08.028 |
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| Titolo rivista/pubblicazione: | PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES |
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| Numero di sistema: | 7475 |
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| Depositato il: | 21 Ottobre 2010 08:56 |
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| Ultima modifica: | 21 Ottobre 2010 08:56 |
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