Development of a FPGA based test system for Double Data Rate high speed memory devices
Di Cicco, Adele (2007) Development of a FPGA based test system for Double Data Rate high speed memory devices. [Tesi di dottorato] (Inedito) Full text disponibile come:
| Tipologia di documento: | Tesi di dottorato |
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| Parole chiave: | Double data rate; Signal integrity; Jitter |
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| Settori scientifico-disciplinari MIUR: | Area 02 Scienze fisiche > FIS/01 FISICA SPERIMENTALE |
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| Coordinatori della Scuola di dottorato: | | Coordinatore del Corso di dottorato | e-mail (se nota) |
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| Vaglio, Ruggero | |
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| Tutor della Scuola di dottorato: | | Tutor del Corso di dottorato | e-mail (se nota) |
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| Aloisio, Alberto | |
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| Stato del full text: | Accessibile |
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| Data: | 2007 |
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| Numero di pagine: | 92 |
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| Istituzione: | Università degli Studi di Napoli Federico II |
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| Dipartimento o Struttura: | Scienze Fisiche |
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| Tipo di tesi: | Dottorato |
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| Stato dell'Eprint: | Inedito |
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| Denominazione del dottorato: | Tecnologie Innovative per Materiali, Sensori ed Imaging |
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| Ciclo di dottorato: | XVII |
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| Numero di sistema: | 1591 |
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| Depositato il: | 14 Maggio 2008 |
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| Ultima modifica: | 04 Febbraio 2009 09:44 |
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