Scanning Probe Techniques for the Characterization of Electronic Properties of Transition Metal Oxide Surfaces and Interfaces

Ristic, Zoran (2009) Scanning Probe Techniques for the Characterization of Electronic Properties of Transition Metal Oxide Surfaces and Interfaces. [Tesi di dottorato] (Inedito)

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Abstract

Scanning tunneling spectroscopy has been a window into the (sub)atomic world for more than two decades now, but the wealth of information that this technique offers seem yet to be exploited to it's maximum. In this thesis it is tried to optimize STM and, more precisely, STS techniques for the investigation of transition metal oxides, especially ones that exhibit interesting correlated structural and electronic phenomena like Pr$_{1-x}$Ca$_{x}$MnO$_{3}$ and LaAlO$_{3}$/SrTiO$_{3}$ system; the first is an insulator characterized by intriguing magnetic and charge-ordered phases, and the second is unique example of 2D electron gas, confined to the buried interface between two band-insulators. To this purpose, different numerical methods are proposed, which greatly help the handling of the data obtained in STS measurements. This approach allowed to determine important correlations between structural and electronic properties of the TMO surfaces/interfaces

Tipologia di documento:Tesi di dottorato
Parole chiave:Scanning tunneling microscopy, Scanning tunneling spectroscopy, transition metal oxides, manganites, numerical methods, buried interfaces, 2d electron gas
Settori scientifico-disciplinari MIUR:Area 02 Scienze fisiche > FIS/03 FISICA DELLA MATERIA
Area 02 Scienze fisiche > FIS/01 FISICA SPERIMENTALE
Coordinatori della Scuola di dottorato:
Coordinatore del Corso di dottoratoe-mail (se nota)
Andreone, Antonello
Abate, Giancarllo
Tutor della Scuola di dottorato:
Tutor del Corso di dottoratoe-mail (se nota)
Salluzzo, Marcosalluzzo@na.infn.it
Stato del full text:Accessibile
Data:30 Novembre 2009
Numero di pagine:153
Istituzione:Università degli Studi di Napoli Federico II
Dipartimento o Struttura:Scienze fisiche
Tipo di tesi:Dottorato
Stato dell'Eprint:Inedito
Scuola di dottorato:Tecnologie Innovative per Materiali, Sensori ed Imaging
Denominazione del dottorato:Tecnologie Innovative per Materiali, Sensori ed Imaging
Ciclo di dottorato:XXII
Numero di sistema:4238
Depositato il:10 Marzo 2010 14:08
Ultima modifica:05 Agosto 2010 10:19

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