Abbate, Giancarlo and Ambrosone, Giuseppina and Coscia, Ubaldo and Marino, Antigone
(2010)
Spectroscopic ellipsometry study of hydrogenated amorphous silicon carbon alloy films deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition.
[Pubblicazione in rivista scientifica]
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| Tipologia del documento: |
Pubblicazione in rivista scientifica
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| Titolo: |
Spectroscopic ellipsometry study of hydrogenated amorphous silicon carbon alloy films deposited by plasma enhanced chemical vapor deposition |
| Autori: |
| Autore | Email |
|---|
| Abbate, Giancarlo | [non definito] | | Ambrosone, Giuseppina | [non definito] | | Coscia, Ubaldo | [non definito] | | Marino, Antigone | [non definito] |
|
| Autore/i: |
D. K. Basa, G. Abbate, G. Ambrosone, U. Coscia, A. Marino |
| Data: |
2010 |
| Numero di pagine: |
0 |
| Dipartimento: |
Scienze fisiche |
| Titolo del periodico: |
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| Data: |
2010 |
| Volume: |
107 |
| Intervallo di pagine: |
pp. 23502-23507 |
| Numero di pagine: |
0 |
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| Depositato il: |
21 Ott 2010 07:39 |
| Ultima modifica: |
30 Apr 2014 19:43 |
| URI: |
http://www.fedoa.unina.it/id/eprint/7731 |
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